当前位置:首页 > 技术支持 > 实验室能力
高温反偏实验系统

3029d23c8675da221717368600aef5b.jpg

使用范围系统能满足各种封装的整流桥、二极管、三极管、SCR、MOSFET等高温反偏试验。

技术特点:

①.实时检测每个器件的反偏电压、漏电流;

②每颗器件对应一个快速熔断保险丝;

③.整个试验过程的数据(漏电流、反偏电压、温度)记录并存储,并输出为EXCEL报表何绘制全过程漏电流IR曲线

④.可根据客户要求,定制各种老化板及测试程序。


推荐服务

Related information
四川熙隆半导体科技有限公司 版权所有 备案号:粤ICP备2023121202号